Расчет характеристик надежности

В соответствии с приведенными требованиями в ходе опытно-конструкторской разработки производится [9] определение характеристик надежности:

Pc(t) - вероятности безотказной работы системы;

λс- интенсивности отказов системы;

Тср - средней наработки на отказ системы.

Расчет интенсивности отказов источника при основном соединении ЭРЭ производится путем суммирования интенсивностей отказов всех ЭРЭ, входящих в устройство:

m

λ0C = N1· λ01 + N2· λ02 +…+ Nm· λ0m = Σ Ni · λ0i (5.3)

i =1

где N1,N2, . Nm - количество однотипных ЭРЭ;

λ01, λ02, . λ0m - соответствующие им интенсивности отказов.

Вероятность безотказной работы источника питания:

Составляем перечень элементов по группам и сносим в таблицу 5.1.

Таблица 5.1 - Интенсивности отказов элементов схемы

Наименование элемента

Обозначение

Кол.

λ0i, 1/ч*10-6

λ0сi, 1/ч*10-6

К71-4

С1,С5,С7,С11,С12,С18,С20,С30,С32

9

0.02

0.18

К70-6

С2,С8,С29,С31

4

0.03

0.12

К50-6

С3,С4,С6,С9,С10,С13,С16,С17,С19 С21…С26,С28,С33…С38,С43…С46

26

0.05

1.3

К10-17

С14,С15,С39 С42

6

0.04

0.24

7B05

DD1

1

0.01

0.01

TL494

DD2

1

0.02

0.02

LM393

DD3

1

0.01

0.01

KM1816BE51

DD4

1

0.03

0.03

KP572ПВ3

DD5

1

0.03

0.03

TL4531C

DD6

1

0.02

0.02

K564KT3

DD7

1

0.03

0.03

KP1401УД2

DD8

1

0.01

0.01

KP142EН12A

DD9

1

0.04

0.04

KP142EН12A

DD10

1

0.04

0.04

ВП1-15A

FA1

1

0.03

0.03

АЛ307АМ

HL1,HL2

2

0.05

0.10

дросели

L1…L9

9

0.15

1.35

C2-23

R1…R73, R76, R78, R80…R101

97

0.05

4.85

CП3-1

R74, R75, R78, R81

4

0.16

0.64

Перейти на страницу: 1 2 3

Советуем почитать:

Микроконтроллеры для начинающих. И не только
Микроконтро́ллер (англ. Micro Controller Unit, MCU) – микросхема, предназначенная для управления электронными устройствами. Типичный микроконтроллер сочетает в себе функции пр ...

Кривые линии и поверхности, их применение в радиоэлектронике и автоматике
Кривые линии и поверхности их применение в радиоэлектронике и автоматике. Этот раздел курса имеет особое значение для графической подготовки инженера. Внешняя и внутренняя форма дета ...

Разработка конструкции и технологии изготовления модуля управления временными параметрами
Современная микроэлектроника привела к революционным преобразованиям практически во всех отраслях техники, не говоря уже о радиоэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуре. Повыше ...

Меню



© 2015 TechExternal